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Electromigration in thin films and electronic devices: materials and reliability
| Autor principal: | |
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| Lenguaje: | eng |
| Publicado: |
Woodhead Publ.
2011
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/1704864 |
| Descripción no disponible. |