Applications of Mössbauer spectroscopy to investigations of defects in semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Nylandsted-Larsen, A, Petersen, J W, Weyer, G
Lenguaje:eng
Publicado: 1988
Materias:
Other Fields of Physics
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/192074
Descripción
Descripción no disponible.

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