Thoughtful machine learning : a test-driven approach

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Kirk, Matthew
Lenguaje:eng
Publicado: O'Reilly Media 2015
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1970092

Internet

http://cds.cern.ch/record/1970092

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