Reliability and failure of electronic materials and devices

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ohring, Milton, Kasprzak, Lucian
Lenguaje:eng
Publicado: Elsevier 2014
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/1977319
Descripción
Descripción no disponible.

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