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x-ray monitors to measure bunch length and vertical profile at LEP

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Rossa, E, Bovet, Claude, Jenny, B, Spanggaard, J, Jeanclaude, E, Cuzin, M, Gentet, M C, Ravel, C
Lenguaje:eng
Publicado: 1990
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/209854

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