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2nd International Conference on Ion-beam Surface-layer Analysis

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Käppeler, Franz K, Linker, Gerhard, Meyer, Otto
Lenguaje:eng
Publicado: Plenum 1976
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-8876-4
http://cds.cern.ch/record/222226