Semiconductor devices in harsh conditions

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Weide-Zaage, Kirsten, Chrzanowska-Jeske, Malgorzata
Lenguaje:eng
Publicado: CRC Press 2016
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2241715
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares