Semiconductor devices in harsh conditions

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Weide-Zaage, Kirsten, Chrzanowska-Jeske, Malgorzata
Lenguaje:eng
Publicado: CRC Press 2016
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2241715

Internet

http://cds.cern.ch/record/2241715

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