Analog sampling techniques in CMOS technology for future front ends

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Anghinolfi, Francis, Aspell, P, Campbell, M, Heijne, Erik H M, Jarron, Pierre, Verweij, H, Santiard, Jean-Claude
Lenguaje:eng
Publicado: 1991
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/228281
Descripción
Descripción no disponible.

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