Leakage current and defect characterization of short channel mosfets

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Roll, Guntrade
Lenguaje:eng
Publicado: Logos 2012
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2622977

Internet

http://cds.cern.ch/record/2622977

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