A simplistic model for reverse annealing in irradiated silicon

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Lutz, Gerhard
Lenguaje:eng
Publicado: 1994
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/263463

Internet

http://cds.cern.ch/record/263463

Ejemplares similares