IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Baglio, Salvo, Karlovic, Steve
Lenguaje:eng
Publicado: IEEE 2018
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2646478

Internet

http://cds.cern.ch/record/2646478

Ejemplares similares