Parasitic substrate coupling in high voltage integrated circuits: minority and majority carriers propagation in semiconductor substrate

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Buccella, Pietro, Stefanucci, Camillo, Kayal, Maher, Sallese, Jean-Michel
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2018
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2698055
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares