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Low substrate temperature modeling outlook of scaled n-MOSFET

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ashraf, Nabil Shovon, Iniewski, Kris
Lenguaje:eng
Publicado: Morgan & Claypool Publishers 2018
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2713848