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Dose characteristics of high-energy neutrons for radiation damage evaluation of silicon semiconductor devices

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Alexeev, A G, Savitskaya, E N, Kharlampiev, S A, Kurochkin, V P
Lenguaje:eng
Publicado: 1994
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/274861

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