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Pattern recognition: 6th Chinese conference, CCPR 2014, Changsha, China, November 17-19, 2014 proceedings, part II

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Li, Shutao, Liu, Chenglin, Wang, Yaonan
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2014
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2757065

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