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Progress in pattern recognition, image analysis, computer vision, and applications: 20th Iberoamerican congress, CIARP 2015, Montevideo, Uruguay, November 9-12, 2015, proceedings

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Pardo, Alvaro, Kittler, Josef
Lenguaje:eng
Publicado: Springer International Publishing AG 2015
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2757647

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