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Advances in biometrics: international conference, ICB 2007, Seoul, Korea, August 27-29, 2007, proceedings

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lee, Seong-Whan, Li, Stan Z
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2007
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2762892

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