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Measurements of transistors and silicon microstrip detector readout circuits in the Harris AVLSIRA radiation hard CMOS process

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Raymond, M, Hall, G, Millmore, M, Sachdeva, R, French, M, Nygård, E, Yoshioka, K
Lenguaje:eng
Publicado: 1994
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/0168-9002(94)91373-0
http://cds.cern.ch/record/281220