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Transverse profile monitor using ion probe beams

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bosser, J, Dimopoulou, C, Feschenko, A, Maccaferri, R
Lenguaje:eng
Publicado: 2000
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2833086