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Measurement of spatial resolution and charge collection in double sided double metal silicon microstrip detectors

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Troncon, C
Lenguaje:eng
Publicado: 1995
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/0920-5632(95)00544-7
http://cds.cern.ch/record/284941

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