Soft X-ray (50-1800 eV) measurements of niobium superconducting tunnel junctions

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lumb, D H, Van Dordrecht, A, Peacock, A, Rando, N, Verhoeve, P, Verveer, J, Goldie, D J, Lumley, J L
Lenguaje:eng
Publicado: 1995
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/290777

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