Combined electrical, optical and nuclear investigations of impurities and defects in II-VI semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Achtziger, N, Baurichter, A, Bollmann, J
Lenguaje:eng
Publicado: 1992
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/295364
Descripción
Descripción no disponible.

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