Damage observed in silicon diodes after low-energy pion irradiation

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Aarnio, Pertti A, Huhtinen, M, Pimiä, M, Kaita, K, Laakso, Mikko, Numminen, A, Ryytty, P
Lenguaje:eng
Publicado: 1995
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/0168-9002(95)00008-9
http://cds.cern.ch/record/302525
Descripción
Descripción no disponible.

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