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X-ray based sub-picosecond electron bunch characterization using 90 degree

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Leemans, W P, Schönlein, R W, Volfbeyn, P, Chin, A, Glover, T E, Balling, P, Zolotorev, M S, Kim, K J, Chattopadhyay, S, Shank, C V
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/310152