Electron paramagnetic resonance investigations of erbium andsilver related defects in silicon

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Böhrer, J, Burchard, A, Gehlhoff, W
Lenguaje:eng
Publicado: 1997
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/322242

Internet

http://cds.cern.ch/record/322242

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