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Statistical description of strongly damped binary yields from the $^{28}Si + ^{16}O$ reaction

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Szanto de Toledo, A, Sanders, S J, Beck, C
Lenguaje:eng
Publicado: 1997
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/327119

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