Element depth profiles of porous silicon

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kobzev, A P, Nikonov, O A, Kulik, M, Zuk, J, Krzyzanowski, M, Ochalski, T J
Lenguaje:eng
Publicado: 1997
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/341124

Internet

http://cds.cern.ch/record/341124

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