Radiation hardening of VLSI-electronics

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Wulf, F, Bräunig, D, Boden, A
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 1989
Materias:
XX
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-1989-010-V-2.681
http://cds.cern.ch/record/368567
Descripción
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