Laterally resolved measurements of polycrystalline cesium iodide surfaces

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Rudolf, P, Marchal, F, Sporken, R, Caudano, R, Dell'Orto, T, Almeida, J, Braem, André, Piuz, François, Sgobba, Stefano, Paic, G, Nappi, E, Valentini, A, Sartori, P, Coluzza, C
Lenguaje:eng
Publicado: 1997
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/372495
Descripción
Descripción no disponible.

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