Defect evolution in silicon detector material

Detalles Bibliográficos
Autor principal: MacEvoy, B C
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/399750

Internet

http://cds.cern.ch/record/399750

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