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Measurements of radiation hardened transistors from Harris and DMILL technologies

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Milmore, M, French, M, Hall, G, Raymond, M, Sciacca, G F
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/399999

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