Wafer screening of the front-end ASICs for ATLAS SCT

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lacasta, C, Kaplon, J
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 1999
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-1999-009.133
http://cds.cern.ch/record/432207
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares