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Possible Uses Of Synchrotron Radiation For Electron Beam Profile Monitoring In LEP And SPS

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bosser, Jacques, Coisson, R, Hofmann, A, Méot, F
Lenguaje:eng
Publicado: 1982
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/443099

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