X-ray measurements with compound semiconductor arrays

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Owens, A, Andersson, H, Bavdaz, M, Brammertz, G, Gagliardi, T, Gostilo, V, Lisjutin, I, Loupilov, A, Major, I, Mastrikov, Y, Nenonen, S, Peacock, A, Poelaert, A, Sipilä, H, Tröger, L
Lenguaje:eng
Publicado: 2000
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/471278

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