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Comparative accuracy study of current-mode versus voltage mode analog memory in 0.25 $\mu m$ technology

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Michel, J, Vautrin, F, Braun, F
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2000
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2000-010.530
http://cds.cern.ch/record/479727