Single Event Upset tests of commercial FPGA for space applications

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Mattsson, S
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2001
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2001-005.32
http://cds.cern.ch/record/528419
Descripción
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