Data Acquisition and Control System for Samsung Superconductor Test Facility

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Choi, H, Baang, S, Baek, S H, Chang, Y B, Kim, J H, Kim, J S, Kim, K, Kim, M K, Kim, S B, Kim, Y J, Lee, S I, Lee, Y H, Lim, B S, Park, H K, Park, K R, Yee, J, Yoon, C S
Lenguaje:eng
Publicado: 1999
Materias:
Accelerators and Storage Rings
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/532722
Descripción
Descripción no disponible.

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