8th International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Prelec, K
Lenguaje:eng
Publicado: AIP 2000
Materias:
Other Fields of Physics
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/535806
Descripción
Descripción no disponible.

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