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Results of radiation hardness of diodes processed from various silicon materials

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ruzin, A, Casse, G L, Glaser, M, Kuhnke, M, Lemeilleur, F, Matheson, J, Vasilescu, A, Zanet, A, Watts, S
Lenguaje:eng
Publicado: 1998
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/539865

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