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Etude des transistors MOS avancés sur Silicium sur isolant (SOI): bruit, dégradation et environnement radiatif et applications
Autor principal: | Faccio, F |
---|---|
Lenguaje: | fre |
Publicado: |
CERN
1997
|
Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/545820 |
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