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Electron Beam, 3.5MV, 2kA Injector Diode Diagnostics for the DARHT Facility

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Eylon, S, Henestroza, E, Vella, M C, Yu, S S, Ekdahl, C
Lenguaje:eng
Publicado: 2001
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/556150

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