Trends in microelectronics and nanoeletronics and their impact of HEP instrumentation

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Jarron, Pierre
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2002
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2002-003.9
http://cds.cern.ch/record/592711
Descripción
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