A detailed study of charge diffusion and its effect on spatial resolution in Silicon Drift Detectors, pt.3

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Nouais, D, Cerello, P G
Lenguaje:eng
Publicado: 2001
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/689046
Descripción
Descripción no disponible.

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