Double charge exchange with post-scip beams

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Tanner, N W, Wilkin, C, Domingo, John J
Lenguaje:eng
Publicado: 1972
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/709955
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares