Production Testing of ATLAS MDT Front-End Electronics

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Hazen, E, Posch, C, Kirsch, L, Brandenburg, G, Nudell, M, Oliver, J
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2003
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2003-006.297
http://cds.cern.ch/record/722070
Descripción
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