Beam loss induced electrical stress test on CMS silicon strip detectors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Weiler, T, Dirkes, G, Fahrer, M, Hartmann, F, Heier, S, MacPherson, A, Müller, T
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2003
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2003-006.437
http://cds.cern.ch/record/722269
Descripción
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