Searching for the origin of VDET pattern recognition errors using the Monte Carlo truth

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bonissent, A, Carr, J, Drinkard, J
Lenguaje:eng
Publicado: 1993
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/805897

Internet

http://cds.cern.ch/record/805897

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