SEU robustness, total dose radiation hardness and analog performance of the Beetle chip

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Trunk, Ulrich, Van Bakel, N, Van Beuzekom, M G, Jans, E, Klous, S, Verkooijen, H, Agari, M, Bauer, C, Baumeister, D, Blow, J, Hofmann, W, Knöpfle, K T, Löchner, S, Schmelling, M, Sexauer, E, Feuerstack-Raible, M, Harnew, N, Smale, N J
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2004
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2004-010.142
http://cds.cern.ch/record/814077

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