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High Statistics Testing of Radiation Hardness and Reliability of Lasers and Photodiodes

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gill, K, Axer, M, Dris, S, Grabit, R, Macias-Jareno, R, Noah, E, Troska, Jan K, Vasey, F
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 2004
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-2004-010.153
http://cds.cern.ch/record/814078

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